Teilchengrößeinspektion des Präzisionselektrobildungs-Ärmelschirmes Φ 75 mit hoher Siebungsgenauigkeit

φ 75 Präzisionselektrobildungs-Inspektionsschirm wird hauptsächlich für genaue Siebungsentdeckung des feinen und Mikropartikels, Experiment in den Institutionen der wissenschaftlichen Forschung, Diamantproduktion und Inspektion benutzt
Test und Gebrauch. Das Sieboberflächenmaterial wird durch elektrochemischen Zusatz gemacht.

Maschenweitestrecke: 500-5um, absolute Toleranz der Maschenweite 2-3um nimmt den nationalen super harten abschleifenden, künstlichen Standarddiamanten oder die Vertikale an
Teilchengröße quadratischer Chlorierung, 25 prüfen Siebe insgesamt. Schirmrahmen, Schirmabdeckung und Schirmunterseite werden von Edelstahl 304 gemacht.

Wenn Sie brauchen, bitte sich fühlen frei, mit uns in Verbindung zu treten. Wir sein 24 Stunden pro Tag online.

Das Sieb mit 200 Tests wird hauptsächlich für die Korngrößenanalyse von granulierten Materialien benutzt,

und ist für die Siebung von granulierten Materialien in der abschleifenden, geologischen Erforschung weit verbreitet,

Metallurgie, Arzneibuch, chemische Industrie, Baumaterialien und andere Industrien.

Das Testsieb wird hauptsächlich für Materialverbrauchsanalyse und Entdeckung des Partikels benutzt,

genaue Siebungsentdeckung des Feinpartikels und Massenstandard-qualitäts-Entdeckung und -steuerung.